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- 题名/责任者:
- SMT工艺不良与组装可靠性/贾忠中著
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-121-46413-3/CNY188.00
- 载体形态项:
- xviii, 431页:图 (部分彩图);26cm
- 个人责任者:
- 贾忠中 著
- 学科主题:
- SMT技术
- 中图法分类号:
- TN305
- 一般附注:
- 工信学术出版基金
- 责任者附注:
- 贾忠中, 中兴通讯股份有限公司首席工艺专家, 从事电子制造工艺研究与管理工作近40年。在中兴通讯工作期间, 见证并参与了中兴工艺的发展历程。历任工艺研究部部长、副总工艺师、总工艺师、首席工艺专家。担任广东电子学会SMT专委会副主任委员、中国电子学会委员。对SMT、可制造性设计、失效分析、焊接可靠性等有着深入、系统的研究, 擅长组装不良分析、焊点失效分析。
- 提要文摘附注:
- 本书以工程应用为目标, 聚焦基本概念与原理、表面组装核心工艺、主要组装工艺问题及最新应用问题, 以图文并茂的形式, 介绍了焊接的基础原理与概念、表面组装的核心工艺与常见不良现象, 以及组装工艺带来的可靠性问题。全书结合内容需求, 编入了几十个经典案例, 这些案例非常典型, 不仅有助于读者深入理解有关工艺的概念和原理, 也可作为类似不良现象分析的参考。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN305/8=2 | C001655306 | 2023 | 理科阅览区
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可借 | 理科阅览区 |
| TN305/8=2 | C001655307 | 2023 | 理科阅览区
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可借 | 理科阅览区 |
| TN305/8=2 | C001655308 | 2023 | 理科阅览区
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可借 | 理科阅览区 |
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