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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:31

题名/责任者:
硅通孔三维集成关键技术/王凤娟...[等]著
出版发行项:
北京:科学出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-03-077390-6/CNY135.00
载体形态项:
188页:图;24cm
个人责任者:
王凤娟 著
个人责任者:
尹湘坤 著
个人责任者:
余宁梅 著
个人责任者:
杨媛 著
学科主题:
集成电路-封装工艺
中图法分类号:
TN405.94
题名责任附注:
题名页题其余责任者: 尹湘坤, 余宁梅, 杨媛
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书针对基于硅通孔 (TSV) 三维集成技术中的互连、器件、电路、系统等多个设计层次中存在的模型评估、特性优化、可靠性提升、三维结构实现等核心科学问题, 介绍相关前沿领域内容和研究进展, 重点论述TSV建模和优化、TSV可靠性、三维集成电路热管理、TSV三维电感器、TSV滤波器等关键技术。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN405.94/11 C001686829 2024  理科阅览区     可借 理科阅览区
TN405.94/11 C001686830 2024  理科阅览区     可借 总服务台
TN405.94/11 C001686831 2024  理科阅览区     可借 理科阅览区
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