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题名/责任者:

专利视角下的半导体量检测关键技术/国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心组织编写

出版发行项:

北京:知识产权出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-5130-9496-2/CNY99.00

载体形态项:

218页:图;26cm

个人责任者:

孙跃飞 主编

团体次要责任者:

国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心 组织编写

学科主题:

半导体技术-专利-分析方法

中图法分类号:

G306

一般附注:

本书内容主要基于2023年度国家知识产权局学术委员会专利分析普及推广项目“面向先进制程的半导体量检测关键技术专利分析研究”(FX202302)

责任者附注:

本书主编: 孙跃飞

提要文摘附注:

本书创新开展“双线联动”和“双维定位”特色分析, 重点研究了产业关注的关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况, 研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势, 不仅可以为现有的科研工作提供有力的支撑, 还对未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。本书是了解该行业技术发展现状并预测未来走向、帮助企业做好专利预警的必备工具书。读者通过本书可获得半导体量测与检测的最新专利分析方法与相应的结论, 以便于日常工作的开展。

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