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• 200 1_ |a 专利视角下的半导体量检测关键技术 |A zhuan li shi jiao xia de ban dao ti liang jian ce guan jian ji shu |f 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心组织编写

• 210 __ |a 北京 |c 知识产权出版社 |d 2024

• 215 __ |a 218页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 本书内容主要基于2023年度国家知识产权局学术委员会专利分析普及推广项目“面向先进制程的半导体量检测关键技术专利分析研究”(FX202302)

• 314 __ |a 本书主编: 孙跃飞

• 330 __ |a 本书创新开展“双线联动”和“双维定位”特色分析, 重点研究了产业关注的关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况, 研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势, 不仅可以为现有的科研工作提供有力的支撑, 还对未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。本书是了解该行业技术发展现状并预测未来走向、帮助企业做好专利预警的必备工具书。读者通过本书可获得半导体量测与检测的最新专利分析方法与相应的结论, 以便于日常工作的开展。

• 606 0_ |a 半导体技术 |A ban dao ti ji shu |x 专利 |x 分析方法

• 690 __ |a G306 |v 5

• 701 _0 |a 孙跃飞 |A sun yue fei |4 主编

• 712 02 |a 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心 |A guo jia zhi shi chan quan ju zhuan li ju zhuan li shen cha xie zuo jiang su zhong xin |4 组织编写

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20250801

• 905 __ |a LJUZC |d G306/19

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