MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：59
- 题名/责任者:
- 电子系统小子样试验理论方法/王国玉 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2003
- ISBN及定价:
- 7-118-03092-9/CNY12.00
- 载体形态项:
- 214页:图;20cm
- 个人责任者:
- 王国玉 (电子学) 著
- 学科主题:
- 电子系统-试验模型
- 中图法分类号:
- TN103-81
- 书目附注:
- 有书目 (第212-214页)
- 提要文摘附注:
- 本书对Bayes小子样方法的理论及在电子系统试验中的应用做了详细介绍和阐述。由于Bayes方法的先进性，对于试验结果解释的合理性及其使用时的易操作性，使得该方法在得到同样的置信度条件下，所需的样本数目大为减少，从而有效地缩短试验周期，大大降低试验消耗，提高试验效率，有着广泛的应用前景。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN103-81/1 | C000189638 | 2003 |  理科阅览区
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借出-应还日期：2026-06-26 |
| TN103-81/1 | C000189639 | 2003 | 理科阅览区
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可借 |
| TN103-81/1 | C000189641 | 2003 | 理科阅览区
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可借 |
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