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• 200 1_ |a 电子系统小子样试验理论方法 |A dian zi xi tong xiao zi yang shi yan li lun fang fa |f 王国玉 ... [等] 著

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2003

• 215 __ |a 214页 |c 图 |d 20cm

• 320 __ |a 有书目 (第212-214页)

• 330 __ |a 本书对Bayes小子样方法的理论及在电子系统试验中的应用做了详细介绍和阐述。由于Bayes方法的先进性，对于试验结果解释的合理性及其使用时的易操作性，使得该方法在得到同样的置信度条件下，所需的样本数目大为减少，从而有效地缩短试验周期，大大降低试验消耗，提高试验效率，有着广泛的应用前景。

• 606 0_ |a 电子系统 |A dian zi xi tong |x 试验模型

• 690 __ |a TN103-81 |v 4

• 701 _0 |a 王国玉 |A Wang Guoyu |c (电子学) |4 著

• 801 _0 |a CN |b BUPT |c 20030702

• 801 _2 |a CN |b DUTL |c 20030923

• 801 _2 |a CN |b LJUZC |c 20051230

• 905 __ |a LJUZC |d TN103-81/1

• 920 __ |a 222016 |z 1