MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：73
- 题名/责任者:
- 可靠性增长试验/梅文华编著
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2003
- ISBN及定价:
- 7-118-03111-9 精装/CNY25.00
- 载体形态项:
- 250页:图;21cm
- 并列正题名:
- Reliability growth test
- 个人责任者:
- 梅文华 编著
- 学科主题:
- 可靠性试验-研究
- 中图法分类号:
- TB114.3
- 书目附注:
- 有书目 (第243-248页)
- 提要文摘附注:
- 本书介绍可靠性增长试验的有关知识。全书分七章：第一章介绍可靠性增长概述；第二章介绍可靠性增长试验；第三、四章分别介绍Ｄｕａｎｅ模型和ＡＭＳＡＡ模型；第五章介绍多台产品ＡＭＳＡＡ模型；第六章介绍Ｇｏｍｐｅｒｔｚ模型及其改进型；第七章为电子产品可靠性增长工程。本书内容深入浅出，力求理论推导与工程应用并重，在多台同型产品可靠性增长试验评估方法等方面有创见。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TB114.3/3 | C000162846 | 2003 |  理科阅览区
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可借 | |
| TB114.3/3 | C000332304 | 2003 | 理科阅览区
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可借 | 总服务台 |
| TB114.3/3 | C000332305 | 2003 | 理科阅览区
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可借 |
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