机读格式显示(MARC)

• 000 01234nam0 2200301 450

• 001 0000033010

• 005 20051111093500.0

• 010 __ |a 7-118-03111-9 |b 精装 |d CNY25.00

• 099 __ |a CAL 012003123715

• 100 __ |a 20051111d2003 ekmy0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi |d eng |e eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 可靠性增长试验 |A ke kao xing zeng zhang shi yan |d = Reliability growth test |f 梅文华编著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2003

• 215 __ |a 250页 |c 图 |d 21cm

• 320 __ |a 有书目 (第243-248页)

• 330 __ |a 本书介绍可靠性增长试验的有关知识。全书分七章：第一章介绍可靠性增长概述；第二章介绍可靠性增长试验；第三、四章分别介绍Ｄｕａｎｅ模型和ＡＭＳＡＡ模型；第五章介绍多台产品ＡＭＳＡＡ模型；第六章介绍Ｇｏｍｐｅｒｔｚ模型及其改进型；第七章为电子产品可靠性增长工程。本书内容深入浅出，力求理论推导与工程应用并重，在多台同型产品可靠性增长试验评估方法等方面有创见。

• 510 1_ |a Reliability growth test |z eng

• 606 0_ |a 可靠性试验 |A ke kao xing shi yan |x 研究

• 690 __ |a TB114.3 |v 4

• 701 _0 |a 梅文华 |A mei wen hua |4 编著

• 801 _0 |a CN |b SS |c 20030628

• 801 _2 |a CN |b DUTL |c 20030923

• 801 _2 |a CN |b LJUZC |c 20051111

• 905 __ |a LJUZC |d TB114.3/3

• 920 __ |a 222016 |z 1