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• 005 20160601161800.0

• 010 __ |a 978-7-111-52184-6 |d CNY59.90

• 099 __ |a CAL 0120141312122

• 100 __ |a 20160129d2016 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 |A na mi CMOS ji cheng dian lu zhong de xiao yan chi que xian jian ce |f (美) 桑迪普 K.戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编 |g 续海涛等译

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2016

• 215 __ |a XIII, 191页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际信息工程先进技术译丛 |A guo ji xin xi gong cheng xian jin ji shu yi cong

• 312 __ |a 英文题名取自封面

• 320 __ |a 有书目 (第184-191页)

• 330 __ |a 本书分为4个部分: 第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成 (ATPG) ; 第2部分介绍全速测试, 并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD ; 第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案 ; 第4部分介绍了SDD的测试标准等内容。

• 410 _0 |1 2001 |a 国际信息工程先进技术译丛

• 500 10 |a Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits |A Testing For Small-delay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits |m Chinese

• 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x CMOS电路 |x 缺陷检测

• 690 __ |a TN432 |v 5

• 701 _1 |a 戈埃尔 |A ge ai er |g (Goel, Sandeep K.) |4 主编

• 701 _1 |a 查克拉巴蒂 |A cha ke la ba di |g (Chakrabarty, Krishnendu) |4 主编

• 702 _0 |a 续海涛 |A xu hai tao |4 译

• 801 _0 |a CN |b RENTIAN |c 20160129

• 905 __ |a LJUZC |d TN432/9

• 920 __ |a 222016 |z 1