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• 200 0_ |a 微电子器件可靠性 |f 贾新章[等]编著

• 205 __ |a 2版

• 210 __ |c 高等教育出版社 |a 北京 |d 2025.04

• 215 __ |a 277页 |d 26cm |e 图

• 330 __ |a 本书共7章，以硅微电子器件为中心，在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上，重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价，以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。

• 690 __ |a TN4