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检索到 6 条 分类号=TN407 的结果    

 


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  1. 中文图书1.集成电路封装与测试 TN405.94/12

    馆藏复本：3
    可借复本：3     主编卢静, 马岗强, 徐雪刚
    高等教育出版社 2024
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.集成电路测试技术 TN407/3

    馆藏复本：3
    可借复本：3     武乾文主编
    电子工业出版社 2022
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.伪集成电路检测与防护:detection and avoidance TN407/2

    馆藏复本：3
    可借复本：3     (美) 马克 (穆罕默德)·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著
    国防工业出版社 2022
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.集成电路测试指南 TN407-62/1

    馆藏复本：3
    可借复本：3     邬刚, 王瑞金, 包军林编著
    机械工业出版社 2021
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.集成电路测试技术基础 TN407/1

    馆藏复本：3
    可借复本：3     姜岩峰, 张晓波, 杨兵编著
    化学工业出版社 2008
    (0) 馆藏

  6. 中文期刊6.电子测试 TN407/K1

    馆藏复本：65
    可借复本：0     北京自动测试研究所主办
    电子测试杂志社 1998-
    (0) 馆藏

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