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检索到 2 条 责任者=龙绪明 的结果    

 


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  1. 中文图书1.芯片封装与测试 TN43/16

    馆藏复本：3
    可借复本：3     关赫, 龙绪明, 李锋编著
    西北工业大学出版社 2022
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.电子SMT制造技术与技能.第2版 TN305/5=2

    馆藏复本：3
    可借复本：3     龙绪明主编
    电子工业出版社 2021
    (0) 馆藏

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