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检索到 4 条 责任者=恩云飞 的结果    

 


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  1. 中文图书1.集成电路封装可靠性技术 TN405.94/10

    馆藏复本：3
    可借复本：3     周斌, 恩云飞, 陈思编著
    电子工业出版社 2023
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.电子微组装可靠性设计,应用篇 TN605/5

    馆藏复本：3
    可借复本：3     何小琦, 恩云飞, 周斌编著
    电子工业出版社 2022
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.电子微组装可靠性设计,基础篇 TN605/4

    馆藏复本：3
    可借复本：3     何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著
    电子工业出版社 2020
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.电子元器件失效分析技术 TN606/3

    馆藏复本：3
    可借复本：3     恩云飞, 来萍, 李少平编著
    电子工业出版社 2015
    (0) 馆藏

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