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馆藏复本:3
可借复本:3 (美) 迈克尔·派克,康明守编
电子工业出版社 2025
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中文图书2.可靠性工程 TB114.39/1
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) 凯拉什·卡布尔, 迈克尔·佩希特著
国防工业出版社 2018
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中文图书3.温度对微电子和系统可靠性的影响 TN4/21
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim著
国防工业出版社 2008
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