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题名/责任者:

X射线粉末衍射技术:测量与分析基础:fundamentals of measurement and analysis/王春建编著

出版发行项:

北京:化学工业出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-122-45720-2/CNY58.00

载体形态项:

184页:图;24cm

并列正题名:

X-ray powder diffraction technology:fundamentals of measurement and analysis

其它题名:

测量与分析基础

个人责任者:

王春建, 1982- 编著

学科主题:

X射线衍射分析-粉末衍射法

学科主题:

X射线摄影测量-粉末衍射法

中图法分类号:

O434.1

责任者附注:

王春建 (1982-), 山东庆云人, 博士, 副教授, 硕士生导师, 主要从事材料表征与分析X射线多晶衍射技术方向的科学研究和教学工作, 现就职于昆明理工大学分析测试研究中心 (云南省分析测试中心)。

书目附注:

有书目 (第183-184页)

提要文摘附注:

本书着重介绍衍射图谱的产生过程和各类影响因素, 以及与物相分析功能的相关性。在测量技术方面, 详细介绍了衍射仪中各类光路元器件的工作原理和参数设置, 并对测量过程的每个环节进行了详细论述。在物相分析方面, 针对最常用的物相鉴定功能开展了鉴定原理、鉴定方法、鉴定技巧、数据库应用等方面的详细论述, 并为鉴定结果的可信度提出评估方法和依据 ; 针对物相定量分析、微结构分析等深层次功能, 由浅入深地介绍了数学原理的推导、功能发展的历程, 以及部分案例的应用, 并且论证了分析方法的简化过程等内容。最后对衍射仪的维护保养、X射线辐射安全等方面进行了详细介绍, 并对X射线衍射技术的学习方法和技巧进行了深入讨论, 总结性指出了技术能力晋升的途径。

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