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- 题名/责任者:
- 互换性与技术测量基础/主编王莉静, 郝龙, 吴金文 参编赵焕玲
- 出版发行项:
- 武汉:华中科技大学出版社,2020
- ISBN及定价:
- 978-7-5680-5976-3/CNY38.00
- 载体形态项:
- 229页:图;26cm
- 个人责任者:
- 王莉静 主编
- 个人责任者:
- 郝龙 主编
- 个人责任者:
- 吴金文 主编
- 个人次要责任者:
- 赵焕玲 参编
- 学科主题:
- 零部件-互换性-高等学校-教材
- 学科主题:
- 零部件-技术测量-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TG801
- 书目附注:
- 有书目 (第228-229页)
- 提要文摘附注:
- 本书分为9章, 主要包括我国公差与配合方面的最新标准, 阐述了技术测量的基本原理, 主要包括绪论, 测量技术基础, 极限与配合, 几何公差, 表面粗糙度及其评定, 光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计, 常用典型件的互换性, 圆柱齿轮公差与检测, 尺寸链计算。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TG801/37 | C001509034 | 2020 | 理科阅览区
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可借 | 理科阅览区 |
| TG801/37 | C001509035 | 2020 | 理科阅览区
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可借 | 总服务台 |
| TG801/37 | C001509036 | 2020 | 理科阅览区
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可借 | 理科阅览区 |
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