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题名/责任者:

软件子系统测试:subsystem testing, including object-based and object-oriented testing/(美) Brian Marick著 韩柯等译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2003

ISBN及定价:

7-111-12794-3/CNY55.00

载体形态项:

472页:图;24cm

并列正题名:

Craft of software testing:subsystem testing, including object-based and object-oriented testing

丛编项:

软件工程技术丛书.测试系列

个人责任者:

马瑞克, B. (Marick, Brian) 著

个人次要责任者:

韩柯 译

学科主题:

软件-测试

中图法分类号:

TP311.5

出版发行附注:

由美国Pearson Education培生教育出版集团授权出版

责任者附注:

责任者马瑞克(Marick)据CIP数据译出

书目附注:

有书目 (第460-466页)

提要文摘附注:

本书共五部分。第一部分通过实际例子，介绍子系统测试的基本问题；第二部分解决的问题是，首先要对哪些内容进行成本不高的整体测试，然后理增加哪些部件做进一步测试；第三部分进一步完善了第一部分，并讨论更正测试错误和其他变更方面的重要问题；第四部分详细讨论基本子系统测试技术，包括基于对象和面向对象的子系统；第五部分讨论如何确定在什么情况下简化假设不成立，在什么情况下成立。

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