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题名/责任者:

Digital systems testing and testable design = 数字系统测试和可测性设计 / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman.

出版发行项:

北京 : 清华大学出版社, 2004.

ISBN:

7302077479

载体形态项:

xvii, 652 p. : ill. ; 26 cm.

变异题名:

数字系统测试和可测性设计

丛编题名:

国外大学优秀教材. 微电子类系列（影印版）

个人责任者:

Abramovici, Miron.

附加个人名称:

Breuer, Melvin A.

附加个人名称:

Friedman, Arthur D.

论题主题:

Digital integrated circuits-Testing.

论题主题:

Digital integrated circuits-Design and construction.

中图法分类号:

TN431.2

书目附注:

Includes bibliographical references and index.

原版附注:

Reprint. Originally published: New York, N.Y. : John Wiley Sons Inc., c1990.

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