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题名/责任者:

半导体结构/张彤, 李国兴, 徐宝琨编著

出版发行项:

北京:科学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-03-078977-8/CNY59.00

载体形态项:

212页:图;26cm

丛编项:

普通高等教育电子科学与技术特色专业系列教材

个人责任者:

张彤 编著

个人责任者:

李国兴 编著

个人责任者:

徐宝琨 编著

学科主题:

半导体器件-结构-高等学校-教材

中图法分类号:

TN303

书目附注:

有书目 (第201页)

提要文摘附注:

本书主要介绍半导体的晶体结构以及缺陷理论。主要内容包括晶体的性质, 晶体的构造理论, 晶体的对称性理论, 晶体的晶向和晶面, 半导体材料及电子材料晶体结构的特点及性质, 半导体中的点缺陷、线缺陷和面缺陷, 以及半导体结构的表征技术。

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