MARC状态:订购 文献类型:中文图书 浏览次数:50
- 题名/责任者:
- 高速数字接口与光电测试/李凯著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2022.01
- ISBN及定价:
- 978-7-302-59040-8/178
- 载体形态项:
- 425页:图;26cm
- 中图法分类号:
- TN919.5
- 提要文摘附注:
- 本书结合笔者多年从业经验,从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解,同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术,对其标准演变、测试方法等做了详细介绍,以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。
- 使用对象附注:
- 本书可供从事服务器、交换机、移动终端、光模块、光通信设备、高速数字芯片、高速光电器件的研发和测试人员了解学习高速数字、光电互联的相关技术及测试方法,也可供高校电子信息类专业的师生做数字电路、信号完整性、光通信技术、光电器件方面的教学参考
全部MARC细节信息>>



