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MARC状态:订购 文献类型:中文图书 浏览次数:50

题名/责任者:
高速数字接口与光电测试/李凯著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2022.01
ISBN及定价:
978-7-302-59040-8/178
载体形态项:
425页:图;26cm
中图法分类号:
TN919.5
提要文摘附注:
本书结合笔者多年从业经验,从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解,同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术,对其标准演变、测试方法等做了详细介绍,以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。
使用对象附注:
本书可供从事服务器、交换机、移动终端、光模块、光通信设备、高速数字芯片、高速光电器件的研发和测试人员了解学习高速数字、光电互联的相关技术及测试方法,也可供高校电子信息类专业的师生做数字电路、信号完整性、光通信技术、光电器件方面的教学参考
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