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题名/责任者:

数字集成电路测试:理论、方法与实践/李华伟 ... [等] 编著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-302-66203-7/CNY79.00

载体形态项:

x, 258页:图;24cm

并列正题名:

Digital integrated circuit testing:principles, methodologies and practices

丛编项:

集成电路科学与技术丛书

个人责任者:

李华伟 编著

个人责任者:

郑武东 编著

个人责任者:

温晓青 编著

学科主题:

数字集成电路-测试技术

中图法分类号:

TN431.207

题名责任附注:

题名页题: 李华伟, 郑武东, 温晓青, 赖李洋, 叶靖等编著

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

责任者附注:

李华伟, 中国科学院计算技术研究所研究员, 中国科学院大学教授, 中国计算机学会集成电路设计专委会主任。研究方向为集成电路设计自动化、数字电路测试等。郑武东, 西门子旗下Digital Industries Software公司首席科学家, IEEELife Fellow, 在集成电路测试和诊断领域拥有84项美国专利。温晓青, 日本九州工业大学教授, IEEE Fellow。研究方向为集成电路测试及高可靠性设计。

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论, 第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术, 第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术, 第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。

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