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- 题名/责任者:
- 半导体器件电离辐射总剂量效应/陈伟 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-03-070039-1/CNY135.00
- 载体形态项:
- 226页:图;24cm
- 丛编项:
- 辐射环境模拟与效应丛书
- 个人责任者:
- 陈伟 编著
- 个人责任者:
- 何宝平 编著
- 个人责任者:
- 姚志斌 编著
- 学科主题:
- 半导体器件-电离辐射-辐射效应
- 中图法分类号:
- TN303
- 题名责任附注:
- 题名页题: 陈伟, 何宝平, 姚志斌, 马武英编著
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍电离辐射环境与效应、体硅CMOS工艺器件和SOI 工艺器件电离总剂量效应、双极工艺器件低剂量率辐射损伤增强效应、总剂量效应数值模拟和试验方法、总剂量效应预估模型与方法、纳米器件总剂量效应与可靠性、系统级总剂量效应模拟试验方法等内容。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN303/22 | C001630902 | 2022 |  理科阅览区
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可借 | 理科阅览区 |
| TN303/22 | C001630903 | 2022 | 理科阅览区
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可借 | 总服务台 |
| TN303/22 | C001630904 | 2022 | 理科阅览区
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可借 | 理科阅览区 |
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