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题名/责任者:

石墨烯材料质量技术基础:计量:metrology/任玲玲主编

出版发行项:

上海:华东理工大学出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-5628-6414-1 精装/CNY218.00

载体形态项:

228页:图 (部分彩图);24cm

并列正题名:

Quality infrastructure of graphene and related two dimensional materials:metrology

其它题名:

计量

丛编项:

战略前沿新材料 —— 石墨烯出版工程

个人责任者:

任玲玲 主编

学科主题:

石墨-纳米材料-计量-研究

中图法分类号:

TB383

一般附注:

“十三五”国家重点出版物出版规划项目 国家出版基金项目

一般附注:

Graphene 07

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书共七章。前两章主要介绍了计量与材料计量的基本概念, 以及石墨烯材料计量、标准的规划设计及框架。后五章主要介绍了石墨烯材料质量评价中关于真假判断的部分计量技术。第3章介绍了石墨烯材料拉曼光谱计量技术, 第4章介绍了X射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构, 第5章介绍了原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度, 第6章介绍了石墨烯材料电子显微镜计量技术, 第7章介绍了石墨烯粉体化学成分测量技术。附录补充了X射线衍射仪的溯源性研究、掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准的内容。

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